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实用新型专利:一种用于测量波长的光学装置

发布时间:2020-02-13

专利名称:一种用于测量波长的光学装置

申请类型:实用新型专利

申请号:CN201720091420.4

申请日:20170707

公开号:CN206488858U

授权公告日:20170912

申请(专利权)人:北京嘉贺恒德科技有限责任公司

发明人:周长颖

代理机构:北京爱普纳杰专利代理事务所(特殊普通合伙)

摘要

本实用新型属于光学棱镜技术领域,特别是涉及一种用于测量波长的光学装置,包括设有外周壁、上盖板和下盖板的腔体,在该腔体下盖板上设置的至少两个反射装置,在所述腔体内部并且在该下盖板内表面上设置的与该棱镜对应的棱柱,使得待测光线经由棱镜、下盖板、棱柱和所述上盖板后形成仅具有不同光程的光线以用于测量。本实用新型能解决激光方向的高精密控制和反复拆卸维护调试等问题,本实用新型光学腔可应用于高精度测量脉冲激光或连续激光波长的光谱及分析。该实用新型的光学腔测量激光波长的精度可以达到1×10?7,具有使用方便的优点。

权利要求

1.一种用于测量波长的光学装置,包括设有外周壁、上盖板和下盖板的腔体和在远离 所述下盖板的外表面设置的反射装置,在所述腔体内部并且在该下盖板内表面上设置有与 所述反射装置对应的棱柱,其特征在于:所述反射装置包括支架,所述支架靠近所述下盖板 的一端固接有具有反射面的反射镜,其远离所述下盖板的另一端转动连接有底座;所述反 射面朝待测光线射入方向设置,所述反射面与所述下盖板的外表面呈可调整的锐角;所述 支架可向靠近或者远离所述下盖板方向调整,所述底座沿待测光线射入方向设置,所述反 射装置的数量至少为两个。 2.根据权利要求1所述的用于测量波长的光学装置,其特征在于:待测光线从一个方向 投射到所述反射面,所述对应的棱柱与所述反射面在该下盖板的内表面上的正投影至少部 分重合使得待测光线通过所述反射面进入到所述棱柱中,然后进入到对应的棱柱中,然后 进入到上盖板,最后从上盖板出来用于测量。 3.根据权利要求2所述的用于测量波长的光学装置,其特征在于:所述上盖板的内表面 与下盖板的内表面平行于待测光线方向。 4.根据权利要求3所述的用于测量波长的光学装置,其特征在于:所述上盖板的外表面 和该下盖板的外表面倾斜于入射光线。 5.根据权利要求4所述的用于测量波长的光学装置,其特征在于:所述棱柱具有不同的 高度,间隔设置。 6.根据权利要求5所述的用于测量波长的光学装置,其特征在于:所述棱柱的上表面沿 所述反射面之延展面与所述底座固接所述支架之平面的连接线方向倾斜。 7.根据权利要求6所述的用于测量波长的光学装置,其特征在于:所述腔体内充有惰性 气体。

原文地址:http://www.bjnajie.com/a/anlijieshao/zhuanlianli/5682.html

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